Основы сканирующей зондовой микроскопии
Характеристики
Автор:
Миронов В.Л.
Рік:
2005
Видавництво:
Техносфера
Кіл-ть стор.:
144
Обкладинка:
Твердая
ISBN:
5-94836-034-2
Оформление заказа
93грн.

Код товара: 16348
На складе: нет

Рейтинг:
Оценить:


Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
Есть вопросы по этому товару?
Вы можете задать нам вопрос(ы) с помощью следующей формы.
code